Ф100 मिमी क्षैतिज क्षेत्र इंटरफेरोमीटर
आवेदन क्षेत्र
फ्लैट और गोलाकार ऑप्टिकल घटक की सतह की गुणवत्ता को मापने के लिए;
गोलाकार ऑप्टिकल घटक की वक्रता की त्रिज्या को मापने के लिए;
सहायक असेंबली और ऑप्टिकल सिस्टम का समायोजन।
काम के सिद्धांत
सामग्री के ऑप्टिकल गुणों को Fizeau हस्तक्षेप सिद्धांत द्वारा मापा जाता है।यह न केवल माप सकता है
मोटाई, दूरी, लेकिन ऑप्टिकल जैसे सामग्री के अंदर अधिक सटीक पैरामीटर भी मापें
एकरूपता,अपवर्तक सूचकांक,सतह समतलता, आदि
विशेषताएँ
| नमूना | आईएनएफ-एसएल-100 |
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स्पष्ट छिद्र |
Ф100 मिमी |
| फेज-शिफ्टिंग मोड | यांत्रिक चरण-स्थानांतरण
वेवलेंथ ट्यूनिंग फेज-शिफ्टिंग |
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सीसीडी संकल्प |
1.2K*1.2K पिक्सेल
2.3K*2.3K पिक्सेल |
| टीएफ | पीवी ≤ λ/20 |
| सिस्टम सटीकता | पीवी ≤ λ/15 |
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सिस्टम दोहराने योग्यता सटीकता |
आरएमएस ≤ λ/2000(2σ) |
| नोट: अनुकूलित उत्पादन उपलब्ध है। | |
उत्पाद लाभ
→ उत्कृष्ट इमेजिंग तकनीक
→ क्षैतिज विन्यास, महान विस्तार
→ क्विक फेज- अनरैपिंग एनालिसिस सिस्टम
हमारे फायदे
हम निर्माता हैं।
हम चीनी राष्ट्रीय विज्ञान और प्रौद्योगिकी प्रमुख परियोजनाओं का कार्य कर रहे हैं।
हम चाइनीज नेशनलमेजर लेजर इंजीनियरिंग प्रोजेक्ट्स पर काम कर रहे हैं।
चीनी का सदस्यऑप्टिकल सोसायटी।
के उप निदेशक इकाईलेजर और ऑप्टोइलेक्ट्रॉनिक्स प्रगति।
के सदस्यचीन रणनीतिक सहयोग गठबंधन का परीक्षण कर रहा है।
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हमारा आईएसओ प्रमाणन
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